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- 2023-06-15 发布于四川
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本发明公开了一种在任意自支撑衬底上生长单晶氮化镓薄膜的方法,首先在任意自支撑衬底上沉积氮化物层,然后将单晶六方结构二维材料(如石墨烯)转移至氮化物层上,形成氮化物和六方结构二维材料复合缓冲层,然后进行AlN的成核以及GaN的外延生长,形成大面积连续GaN单晶薄膜。该方法基于氮化物和六方结构二维材料复合缓冲层,无需利用单晶同质强极性AlN或GaN衬底,也无需对二维材料表面进行破坏性处理形成悬挂键,工艺简单,可重复性好,实现了在任意自支撑衬底上生长单晶GaN薄膜,可用于制作GaN基大功率器件和柔性器
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113206003 B
(45)授权公告日 2022.07.01
(21)申请号 202110370494.2 C30B 25/18 (2006.01)
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