一种芯片测试机内提高抓取信号精度的方法.pdfVIP

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2023-06-15 发布于四川
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一种芯片测试机内提高抓取信号精度的方法.pdf

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本发明涉及芯片测试机技术领域，具体地说是一种芯片测试机内提高抓取信号精度的方法。其特征在于包括如下步骤：S1，取理想变化点；S2，取样本点，对每个样本点及理想变化点分别进行检测扫描，并记录每检测扫描结果；S3，多次重复步骤S2；S4，建立统计数据模型；S5，得到真实变化点；S6，重复步骤S2‑S5；S7，计算信号的整体偏差时间∆t；S8，将整体偏差时间∆t补偿在信号输入端。同现有技术相比，取一个时间周期内所有点，并对所有点进行多点、多次扫描获取若干个真实点的位置，再对若干个真实点取平均以覆盖一个

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113158441 A (43)申请公布日 2021.07.23 (21)申请号 202110345508.5 (22)申请日 2021.03.31 (71)申请人胜达克半导体科技(上海)有限公司