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本发明公开了一种基于梯度折射率透镜的微型化荧光样品检测装置和方法，由LED光源发出的入射光经半球透镜形成平行光，平行光经过激发滤光片，再经二向色镜反射，反射光经梯度折射率透镜汇聚到镀膜样品表面，聚焦光斑激发样品表面发出荧光，反射荧光信号依次经过梯度折射率透镜，二向色镜和收集滤光片后，入射至聚焦透镜，平行光经聚焦透镜汇聚到CCD相机上进行成像，从而完成镀膜样品的表面检测。本发明通过将LED、半球透镜和梯度折射率透镜等元件组成的宽场成像系统高度集成，精简装置体积，实现微型化。还可以用于大型光学元件的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113189076 A
(43)申请公布日 2021.07.30
(21)申请号 202110547332.1
(22)申请日 2021.05.19
(71)申请人 哈尔滨工业大学
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