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- 2023-06-15 发布于四川
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本发明公开了一种荧光寿命偏差的定量化校正方法及装置，借助蒙特卡洛模拟方法模拟在一个激光脉冲周期内发射不同数量光子时，TCSPC系统的探测情况，获取不同发射光子数所对应的荧光衰减光子数分布直方图；利用最小二乘法对荧光衰减光子数分布直方图进行拟合，得到TCSPC系统对应于不同发射光子数探测时的荧光寿命；统计TCSPC系统采样过程中，多光子探测的荧光寿命与单光子探测的荧光寿命之间的定量关系；基于定量关系，校正TCSPC系统的荧光寿命偏差。通过本发明的实施，利用多光子探测的数据来保证TCSPC系统的高计
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113203487 B
(45)授权公告日 2022.07.19
(21)申请号 202110290121.4 (56)对比文件
(22)申请日 2021.03.18
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