DRAM测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备.pdfVIP

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  • 2023-06-15 发布于四川
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DRAM测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备.pdf

本发明公开一种DRAM测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备,通过对待测试的DRAM进行两轮测试,对存储阵列交替写入预设测试数据以及预设测试数据的反数,基于写入的数据以预设操作单元为单位对每一第一预设读写单元分别进行两次遍历,对于遍历到的目标预设操作单元,确定与其相邻的相邻预设操作单元,基于预设测试数据按照预设顺序对目标预设操作单元以及相邻预设操作单元进行数据读写操作,将读取的数据与对应写入的数据进行比较,通过两轮测试的比较结果得到最终测试结果,实现了棋盘背景临近访问,覆盖此前的测试盲区并

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113160876 A (43)申请公布日 2021.07.23 (21)申请号 202110442473.7 (22)申请日 2021.04.23 (71)申请人 深圳佰维存储科技股份有限公司

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