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本发明公开了一种高低温反偏老化测试系统及其控制方法，包括待测器件、老化测试座、整机箱体，所述的整机箱体上设有高低温实验箱，所述的老化测试座固定与高低温实验箱内，所述的待测器件插接于老化测试座上，所述的高低温实验箱右侧设有实验箱操控台，所述的实验箱操控台右侧设有主控台，所述的主控台内设有计算机，所述的主控台正面设有触摸屏，所述的触摸屏上方设有整机电源开关，所述的触摸屏下方设有老化电源，所述的高低温实验箱的控制端与实验箱操控台电性连接，所述的老化电源的控制端、老化测试座的数据传输端和触摸屏的操控端分
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113238111 A
(43)申请公布日 2021.08.10
(21)申请号 202110511300.6
(22)申请日 2021.05.11
(71)申请人 杭州高裕电子科技有限公司
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