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本发明公开了一种光谱测量装置，包括分光元件、目标跟踪系统、DMD装置、高光谱测量系统，分光元件将一束入射光路分成反射光路和透射光路；目标跟踪系统设置在反射光路上并用于追踪目标位置，将追踪到的目标位置坐标发送DMD控制信号和探测器触发控制信号；DMD装置设置在透射光路上并包括DMD控制器和DMD数字微反射镜，DMD控制器根据接收到的DMD控制信号开启对应的数字微反射镜；高光谱测量系统，接收探测器触发控制信号后，采集开启的数字微反射镜上的光谱信息。本发提出的跟踪系统采用多光谱探测器，通过在目标跟踪系
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113237457 B
(45)授权公告日 2022.06.21
(21)申请号 202110500003.1 (51)Int.Cl.
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