一种提高TN型号Island残留引起点缺陷的检出率的方法.pdfVIP

  • 1
  • 0
  • 约6.53千字
  • 约 7页
  • 2023-06-17 发布于四川
  • 举报

一种提高TN型号Island残留引起点缺陷的检出率的方法.pdf

本发明涉及一种提高TN型号Island残留引起点缺陷的检出率的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一,在液晶Panel专用电测架的承载台的下方放置背光板,背光板靠近承载台的端面贴下偏光片,在承载台上方放置与下方偏光片相互垂直的上偏光片,将TN型号的待测面板放置在上偏光片上,承载台为镂空结构,背光板产生的光源能透过承载台,待测面板和电测机连接;步骤二,点亮背光板,将电测机的设置电测程序的频率定位为35‑45HZ,Gate高电平时间定位为400‑600μs;步骤三,检测人员通过目测观察待测面板点亮后

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113281942 A (43)申请公布日 2021.08.20 (21)申请号 202110426536.X (22)申请日 2021.04.20 (71)申请人 信利(惠州)智能显示有限公司

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档