工艺腔室、晶圆和压环传输方法及半导体工艺设备.pdfVIP

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  • 2023-06-17 发布于四川
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工艺腔室、晶圆和压环传输方法及半导体工艺设备.pdf

本发明提供一种工艺腔室及半导体工艺设备,该工艺腔室包括均设置在腔体内的第一支撑件、第二支撑件、第一压环和第二压环,第一支撑件与内衬连接,用于支撑第一压环;第二支撑件设置于第一支撑件的下方,用于支撑第二压环;第二支撑件具有与传片口相对的开口,用于在传输装置取出或放入第二压环时,供第二压环和传输装置通过;第一压环的内径大于第二压环的内径,在基座上升至工艺位置的过程中,基座能够依次顶起第二压环和第一压环,在基座到达工艺位置时,第二压环能够叠置在置于基座上的晶圆的上表面的边缘区域;第一压环能够叠置在第二

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113270360 B (45)授权公告日 2022.01.11 (21)申请号 202110504322.X H01L 21/677 (2006.01)

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