探针装置、超导量子比特结电阻测量装置、系统及方法.pdfVIP

下载本文档

1
0
约2.07万字
约 19页
2023-06-17 发布于四川
举报
版权申诉

探针装置、超导量子比特结电阻测量装置、系统及方法.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明公开了探针装置、超导量子比特结电阻测量装置、系统及方法。该探针装置用于超导量子芯片电阻测量，包括第一探针、第二探针、探针操控机构和电源模块；探针操控机构用于操控第一探针和第二探针下针至超导量子芯片上的约瑟夫森结一侧，使第一探针和第二探针扎入但不扎穿约瑟夫森结一侧超导体表面的氧化层；电源模块用于在第一探针和第二探针之间施加电击穿信号，以击穿约瑟夫森结一侧两个扎入位置下方的氧化层，使得第一探针和第二探针与约瑟夫森结一侧的超导体形成导电连接。通过上述方式，本发明能够避免探针直接接触约瑟夫森结的超

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116263473 A (43)申请公布日 2023.06.16 (21)申请号 202210587143.1 (22)申请日 2022.05.27 (66)本国优先权数据