半导体结构及其制备方法、三维存储器.pdfVIP

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  • 2023-06-17 发布于四川
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半导体结构及其制备方法、三维存储器.pdf

本公开提供了一种半导体结构及其制备方法、三维存储器、存储系统、电子设备,涉及半导体芯片技术领域,旨在解决如何在堆叠结构上制备接触孔的问题。所述制备方法包括:在衬底上形成第一初始堆叠结构,第一初始堆叠结构包括层叠设置的多个膜层对。在第一初始堆叠结构远离衬底的一侧形成第二堆叠结构,第二堆叠结构包括位于阵列区和连接区的选择栅线层。至少将栅极牺牲层中位于阵列区的部分替换成栅极层。形成贯穿第二堆叠结构的开口,开口位于连接区。基于具有开口的第二堆叠结构,刻蚀第一堆叠结构,形成接触孔。在开口和接触孔中形成接触

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114551344 A (43)申请公布日 2022.05.27 (21)申请号 202210162909.1 H01L 27/11582 (2017.01) (22)申请日 2022.

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