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本公开提供了一种半导体器件、芯片、设备和制造方法,涉及半导体技术领域。该半导体器件包括:碳化硅衬底;在碳化硅衬底上的碳化硅漂移层,该碳化硅漂移层包括具有第一导电类型的第一掺杂区、和在第一掺杂区中的具有第二导电类型的第二掺杂区和第三掺杂区,其中,第二导电类型与第一导电类型相反,第三掺杂区与第二掺杂区邻接,第三掺杂区的掺杂浓度小于第二掺杂区的掺杂浓度;与第二掺杂区连接的第一金属层;与第一金属层连接的第一电极;以及在碳化硅衬底的远离碳化硅漂移层的一侧的第二电极。该半导体器件具有比较低的导通压降和较强的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113299732 A
(43)申请公布日 2021.08.24
(21)申请号 202010111560.X
(22)申请日 2020.02.24
(71)申请人 珠海格力电器股份有限公司
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