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本申请实施例涉及设备检测技术领域，公开了一种电气设备缺陷确定方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待识别电气设备的第一红外图像；根据第一红外图像，获取待识别电气设备的温度信息；根据温度信息，确定第一红外图像中的温度异常区域；通过训练好的缺陷确定模型提取温度异常区域的特征，根据特征生成温度异常区域对应的多个第一掩膜，并确定温度异常区域中缺陷部件的第一掩膜系数；通过缺陷确定模型，根据多个第一掩膜以及第一掩膜系数生成温度异常区域的第二掩膜；通过缺陷确定模型，根据第二掩膜确定待识别电气设备的缺
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113378818 A
(43)申请公布日 2021.09.10
(21)申请号 202110688346.5 G06K 9/46 (2006.01)
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