PCB插损阻抗测试分析方法、系统、终端及存储介质.pdfVIP

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2023-06-22 发布于四川
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PCB插损阻抗测试分析方法、系统、终端及存储介质.pdf

本发明提供一种PCB插损阻抗测试分析方法、系统、终端及存储介质，包括：将插损阻抗测试的变量进行量化，选取多个评估目标，并结合变量构建多目标函数，根据评估目标的需求设置多目标函数的约束条件；利用非支配邻域免疫算法训练多目标函数，得到符合约束条件的优势变量方案集群；根据拥挤距离从优势变量方案集群筛选活性变量方案，并对筛选出的活性变量方案进行比例克隆，得到备选方案；根据对评估目标的需求从备选方案中选取目标方案。本发明极大减少软件模拟和试产的次数，提升分析评估效率。与此同时，也可对新技术量化参数并应用到

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113408239 A (43)申请公布日 2021.09.17 (21)申请号 202110677730.5 (22)申请日 2021.06.18 (71)申请人苏州浪潮智能科技有限公司

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