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2023-06-23 发布于四川
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一种基于有机半导体材料的光学测温方法.pdf

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本发明属于有机半导体材料荧光测温领域，公开了一种基于有机半导体材料的光学测温方法。该方法包括以下步骤：利用355nm激光器发出的紫外光作为激励光源激发石墨相氮化碳材料，在80K‑380K的温度区间内，改变温度，记录不同温度下的石墨相氮化碳材料在490nm处的荧光强度，根据不同温度下石墨相氮化碳的荧光强度与温度之间的关系进行温度标定，得到温度标定曲线；根据温度标定曲线和待测环境温度下石墨相氮化碳的荧光强度，得到待测温度。本发明受不同波长的激发光影响小，不受被测物自身发光的影响，且其使用温度范围宽，

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113432746 A (43)申请公布日 2021.09.24 (21)申请号 202110751140.2 (22)申请日 2021.07.01 (71)申请人广东

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