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本发明提供一种形成用于存储器测试的数据库的方法及存储器测试方法，形成数据库的方法包括如下步骤：在一个存储器参数下，以预设时间值为起点，以设定时间步长对存储器进行多次测试，测试结果为合格或不合格；将在存储器参数下连续测试合格的测试结果作为一个子组，所述测试结果能够形成至少一个子组；将测试结果数量最多的子组作为标定组，并在所述标定组的测试时间范围内获取一选定时间值；将所述选定时间值与所述预设时间值的差值作为所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值；更改所述存储器参数，重复上述步骤，以形
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113450867 B
(45)授权公告日 2022.04.12
(21)申请号 202010229170.2 (56)对比文件
(22)申请日 2020.03.27
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