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本发明涉及一种检测结构及检测方法，该方法包括步骤：提供显示背板、检测电路板和检测发光二极管芯片；将检测电路板置于显示背板上，以使检测电路板上的第一检测线与第一接触电极导通，并使检测电路板上的第二检测线与第二接触电极导通；通过显示背板输出驱动信号至第一检测线和第二检测线，若检测发光二极管芯片未点亮，则检测发光二极管芯片对应显示背板上的接触电极对异常。本发明能够在巨量转移之前对显示背板上可能存在的缺陷进行检测，可检测出显示背板上是否存在损坏现象。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113451163 B
(45)授权公告日 2022.05.31
(21)申请号 202011253675.9 (56)对比文件
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