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本申请公开了一种产品缺陷识别方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括步骤：获取待测产品的待测图片，并获取所述待测图片对应的样本图片；基于所述样本图片中的样本产品的对中数据，对所述待测图片进行对中处理，得到处理后待测图片；获取产品缺陷识别模型，并输入所述处理后待测图片至所述产品缺陷识别模型，得到产品缺陷识别结果；所述产品缺陷识别模型基于预设缺陷预设缺陷训练数据集对未训练产品缺陷识别模型进行迭代训练后得到。本申请使得待测图片进行缺陷识别所得到的缺陷识别结果更为准确，降低了识别产品的缺陷时的误差。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113538427 B
(45)授权公告日 2022.01.07
(21)申请号 202111083492.1 (51)Int.Cl.
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