一种平面等厚介质折射率的测量装置及测量方法.pdfVIP

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2023-06-23 发布于四川
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一种平面等厚介质折射率的测量装置及测量方法.pdf

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本申请的实施例公开了一种平面等厚介质折射率的测量装置及测量方法，测量装置包括光谱共焦传感器、光谱仪及调距机构，所述光谱共焦传感器包括白光点光源、半透半反射镜及色散物镜；所述半透半反射镜和色散物镜在白光点光源和被测介质之间沿光轴依次设置；所述调距机构驱使所述光谱共焦传感器与被测介质两者彼此靠近或远离以使得所述色散物镜与被测介质的距离沿着光轴变化3次；所述光谱仪与所述半透半反射镜的反射面相对，用于检测在被测介质上聚焦并反射回的上下两个表面的波长；根据检测得到的4个不同波长计算出被测介质的折射率曲线。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113514424 B (45)授权公告日 2021.12.14 (21)申请号 202111071911.X 审查员高世芝 (22)申请日 2021.09.14