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本发明公开了一种测试装置及测试方法。该装置包括：光源组件、耦合台、第一探测器和第一控制器；其中，光源组件与第一控制器相连，光源组件用于向第一控制器发出触发信号，光源组件还用于为待测芯片提供第一测试光；耦合台用于移动光纤组件，以使光纤组件与待测芯片耦合对准，进而至少部分待测芯片的输出光经由光纤组件传输至第一探测器；第一探测器用于在光纤组件与待测芯片耦合对准时，探测至少部分待测芯片的输出光的第一光功率；第一控制器与第一探测器电连接，第一控制器用于根据触发信号采集第一探测器的数据，以获取第一光功率与第
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113504462 B
(45)授权公告日 2021.12.07
(21)申请号 202111057093.8 审查员 张清娟
(22)申请日 2021.09.09
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