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本发明公开了一种流程测试方法、平台、电子设备及存储介质，用于解决现有的流程测试方法测试周期耗时过长的技术问题。其中，方法包括：获取待测试审批流程，所述待测试审批流程包括运行于不同服务上的多个流程节点；获取所有流程节点的待测试接口，所述待测试接口包括目标接口和待引用接口；响应针对所述目标接口的添加参数指令，从所述待引用接口中获取所述目标接口的入参；根据每个流程节点对应的待测试接口和对应的入参，生成每个流程节点的测试流程；获取所述待测试审批流程的执行顺序，根据所述执行顺序执行每个流程节点的测试流程，
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113535584 B
(45)授权公告日 2022.04.05
(21)申请号 202110886809.9 (56)对比文件
(22)申请日 2021.08.03
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