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- 2023-06-23 发布于四川
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本发明公开了一种半导体透视检测设备，包括支撑地脚、下部内框架、封盖门、新滑台、X‑Y‑U载料平台、上部内框架、摇摆组合总装、控制面板、三色灯、透视门、显示器、操作控制台、连接铰链、X射线防护机壳、接近开关、感应器安装架、感应器支撑架、弧形导轨、第三感应器、第四传感器和安装卡架，所述下部内框架的外端面对称转动卡接有用于限位的封盖门，且位于所述的底端面四角均匀等距固定连有用于支撑的支撑地脚。本发明与以往的设备相比，主要在于平板探测器配备弧形导轨，可做单向倾斜至60度运动，采用X‑Y‑U载料平台，载料
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113484713 B
(45)授权公告日 2022.07.29
(21)申请号 202110812871.3 (56)对比文件
(22)申请日 2021.07.19
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