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本发明涉及一种位线结构和半导体存储器,所述位线结构包括第一位线阵列和第二位线阵列,第一位线阵列包括沿Y方向延伸的多条第一位线,多条所述第一位线具有相同的长度,且沿X方向对齐排列;第二位线阵列包括沿所述Y方向延伸的多条第二位线,多条所述第二位线具有相同的长度,且沿所述X方向对齐排列;其中,所述第一位线阵列与所述第二位线阵列在所述X方向上不对齐,所述X方向与所述Y方向垂直。通过使所述第一位线阵列和所述第二位线阵列在所述X方向上不对齐,为位线接触结构在水平面内提供了更大的设置空间,从而可以扩大位线接触
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113451270 A
(43)申请公布日
2021.09.28
(21)申请号 20201
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