一种可调节的集成电路测试仪.pdfVIP

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2023-06-24 发布于四川
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一种可调节的集成电路测试仪.pdf

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本发明公开了一种可调节的集成电路测试仪，包括底座，所述底座底部四角均开设有轮槽，所述轮槽内设有行走机构，所述底座顶部设有升降机构，所述升降机构上方设有旋转机构，所述旋转机构上方设有固定机构，所述固定机构上设有集成电路测试仪本体。本发明的一种可调节的集成电路测试仪，通过设置的固定机构，将集成电路测试仪本体固定住，通过设置的旋转机构，方便调节集成电路测试仪本体的角度，通过设置的升降机构，方便调节集成电路测试仪本体的高度，解决了集成电路测试仪本体在工作的过程中不能够起到可调节高度和角度，导致工作人员由

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116293231 A (43)申请公布日 2023.06.23 (21)申请号 202211622909.1 F16M 11/18 (2006.01)