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本发明涉及表面具有共轭分子基团的陶瓷真空绝缘子制备方法及绝缘子;解决陶瓷绝缘子真空沿面耐压性能低,且无论是直接氟化还是等离子体辅助氟化均不能用于提升陶瓷真空绝缘子的沿面耐压水平,将聚合物薄膜制备在陶瓷真空绝缘子表面提升其沿面闪络电压时面临着易脱落的问题;包括1:制备共轭分子基团反应溶液,同时对陶瓷真空绝缘子样件进行羟基化;2:将陶瓷真空绝缘子样件放入共轭分子基团反应溶液内静置反应6‑24h;3:将陶瓷真空绝缘子样件浸渍清洗后,除去多余共轭分子基团反应溶液;4:将陶瓷真空绝缘子样件干燥后,升温到1
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116313335 A
(43)申请公布日 2023.06.23
(21)申请号 202310242214.9
(22)申请日 2023.03.14
(71)申请人 西北核技术研究所
地址 7100
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