可读存储介质、支架缺陷位置获取方法及装置.pdfVIP

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2023-07-01 发布于四川
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本发明提供一种可读存储介质、支架缺陷位置获取方法及装置，包括：对待测图像进行二值化处理，以获取二值化图像；对所述二值化图像进行形态学操作，并以所述支架的轴向为横向坐标轴，统计进行形态学操作后的所述二值化图像的每一列的白色像素点个数；基于统计的结果建立坐标映射表，所述坐标映射表反映所述支架的横向像素坐标和所述支架的位置标签之间的映射关系；根据所述支架的缺陷所对应的横向像素坐标及所述坐标映射表，获取所述缺陷的位置标签并输出，以用于识别所述缺陷在所述支架中的实际位置。如此，在人工对支架的缺陷进行核查时

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113724183 A (43)申请公布日 2021.11.30 (21)申请号 202010444102.8 G06T 5/30 (2006.01) (22)申请日 20