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本申请涉及一种电器设备老化测试方法及装置，属于电器测试的技术领域，方法包括：基于预设供电时长、预设断电时长和测试总时长，周期性地对被测电器设备交替进行供电或断电；对所述被测电器设备供电时，判断所述被测电器设备是否供电正常；若是，则获取所述被测电器设备的运行参数和所述被测电器设备加热/制冷区的运行温度；基于所述运行参数和所述运行温度，生成测试日志、参数曲线和温度曲线；上报所述测试日志、所述参数曲线和所述温度曲线。本申请在被测电器设备供电正常时才获取被测电器设备的各项参数，从而在被测电器设备供电异常
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116359655 A
(43)申请公布日 2023.06.30
(21)申请号 202310498008.4
(22)申请日 2023.05.05
(71)申请人 深圳市拓普瑞电子有限公司
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