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本发明公开了一种集成电路芯片内部电路节点测试装置，其结构包括测试机、显示屏、遮尘帘、芯片测试机构，显示屏内嵌在测试机前端面板内，遮尘帘支撑杆与测试机顶板螺栓连接，芯片测试机构底部与测试机顶板活动卡合连接测试机上设有多个芯片测试机构，方便同时进行多块芯片测试，遮尘帘可以防止空气中的粉尘对芯片测试机构造成积灰，芯片测试机构设有夹脚测试机构用来固定芯片针脚和实时传输数据，传输机构内设有触点机构和传输保护机构，在测试机运行时，可以对芯片针脚进行保护，防止芯片在检测时造成意外短路。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113702805 A
(43)申请公布日 2021.11.26
(21)申请号 202110858142.1
(22)申请日 2021.07.28
(71)申请人 王雪莲
地址 362
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