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本申请设计存储器领域,具体涉及一种闪存编程操作方法和操作电路。其中。方法包括:向存储单元的位线提供脉冲序列信号,脉冲序列信号包括:在时域上依次交替的高电平期间和低电平期间;在编程许可信号的控制下,使得存储单元,在脉冲序列信号的一段高电平期间,根据编程输入数据进行编程操作;在脉冲序列信号的一段低电平期间,使得存储单元进行读检测操作;读检测操作包括:读出存储单元中存储的数据,比较在低电平期间读出的数据与编程输入数据是否一致;若一致,停止编程操作;否则,使得存储单元,在下一段高电平期间,再一次根据编程
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112071351 A
(43)申请公布日 2020.12.11
(21)申请号 202010892461.X
(22)申请日 2020.08.31
(71)申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司
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