制造具有改进均匀性的化学机械抛光层的方法.pdfVIP

制造具有改进均匀性的化学机械抛光层的方法.pdf

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本发明提供了制造用于抛光衬底如半导体晶片的化学机械抛光(CMP抛光)层的方法,包含提供具有聚合物壳的多个充液微元件的组合物;通过离心空气分级对所述组合物分级以除去细粒和粗颗粒并产生密度为800克/升到1500克/升的充液微元件;以及,通过以下方式形成所述CMP抛光层:(i)将所述分级的充液微元件通过加热转化成充气微元件,然后将它们与液态聚合物基质形成材料混合并浇注或模制所得混合物以形成聚合物垫基质或(ii)将所述分级的充液微元件直接与所述液体聚合物基质形成材料组合,并浇注或模制。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 108789186 A (43)申请公布日 2018.11.13 (21)申请号 20181

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