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本发明公开一种电路板测试系统,包括:多个探针模块,每个探针模块包括一个夹具和夹持在所述夹具上的多个探针。所述多个探针模块彼此分离并可分别沿与电路板平行的水平方向移动,以适用于不同的电路板。每个所述探针模块与所述电路板上的对应的一个功能电路模块对应,并适于与对应的一个功能电路模块上的所有测试点同时电接触。在本发明中,可通过水平移动多个探针模块来适用于不同的电路板,因此,无需重新设计探针夹具,降低了成本。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113740700 A
(43)申请公布日 2021.12.03
(21)申请号 202010462996.3 (51)Int.Cl.
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