触摸芯片的测试方法、装置、计算机设备和存储介质.pdfVIP

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2023-07-03 发布于四川
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触摸芯片的测试方法、装置、计算机设备和存储介质.pdf

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本申请提供一种触摸芯片的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，所述方法包括：获取触摸芯片的触摸参数集合；根据所述触摸参数集合构建目标二叉树；从所述目标二叉树中挑选不同的两组目标触摸参数组合对触摸芯片进行循环对比测试，并根据每次对比测试的结果对所述目标二叉树进行循环剪枝；本申请通过循环进行选枝测试实现了触摸参数种类和参数值的覆盖测试，通过循环剪枝提高了测试效率，解决了现有技术中触摸芯片的检测方法存在测试精度低或测试效率低的问题，提高了测试效率和测试精度，满足了测试需求。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113760621 A (43)申请公布日 2021.12.07 (21)申请号 202111042252.7 (22)申请日 2021.09.07 (71)申请人四川中微芯成科技有限公司