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本申请提供了一种芯片测试装置与芯片测试系统。该芯片测试装置包括电源设备和测试设备，其中，电源设备用于为多个待测芯片提供VCC，测试设备，包括第一电源和控制芯片，第一电源与控制芯片电连接以向控制芯片提供VCCQ，第一电源还用于与待测芯片电连接以向待测芯片提供VCCQ，控制芯片用于在VCCQ的控制下产生测试信号并发送至待测芯片。因此，该芯片测试装置，通过采用一个电源同时为控制芯片和待测芯片提供VCCQ的方式，避免了当待测芯片侧有电，测试设备侧没有供电时，会产生电势差的情况，进而解决了现有技术中的测试
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113791333 A
(43)申请公布日 2021.12.14
(21)申请号 202111088398.5
(22)申请日 2021.09.16
(71)申请人 长江存储科技有限责任公司
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