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- 2023-07-06 发布于四川
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本申请提供了一种半导体结构及其制备方法、一种外围电路、一种存储器以及一种存储系统。制备半导体结构的方法包括:在衬底上形成第一栅极层,并在第一栅极层上覆盖牺牲层;去除牺牲层的第一预定部分以形成暴露第一栅极层的开口;采用第二栅极层填充开口;以及去除牺牲层和部分第一栅极层,以形成第一栅极和第二栅极,其中,第一栅极层的、与开口对应的部分被保留,以与第二栅极层共同形成第一栅极,并且第一栅极层的第二预定部分被保留以形成第二栅极。根据该制备方法,可根据实际需要改变部分区域的栅极的高度,从而实现低压逻辑器件与高
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113838804 A
(43)申请公布日 2021.12.24
(21)申请号 202111110371.1 H01L 27/11582 (2017.01)
(22)申请日
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