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- 2023-07-06 发布于四川
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本申请涉及碳化硅功率器领域,公开了一种SiCMOSFET器件及其制备方法,SiCMOSFET器件包括衬底、外延底层、基层、源极层、栅极、栅介质层、保护层、沟道段、沟道长度减缩段、浮空段、隔离层、源极和漏极;SiCMOSFET器件基于如下方法制备,包括:在衬底的第一表面上形成外延底层和基层,在外延底层和基层内形成保护层,在基层上形成源极层和基极结,在沟槽内形成栅极、栅介质层、沟道段、沟道长度减缩段和浮空段,在栅极层上形成隔离层,在隔离层和源极层上形成源极,在衬底第二表面上形成漏极。本申请的栅
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113823674 A
(43)申请公布日 2021.12.21
(21)申请号 202111150039.8 H01L 21/336 (2006.01)
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