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- 2023-07-06 发布于四川
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本申请提供了一种光谱测量装置和方法，属于光谱测量领域。该装置包括：超透镜色散系统、显微系统、探测器和计算机处理系统；其中，所述超透镜色散系统的光轴与入射光平行；所述显微系统的光轴垂直于所述超透镜色散系统的光轴；所述显微系统的物方焦点位于所述超透镜色散系统的光轴上；所述显微系统、所述探测器与所述计算机处理系统依次连接，且所述探测器位于所述显微系统的像方焦平面上。该光谱测量装置利用L型布局的超透镜色散系统和显微系统，突破了大角度色散系统对探测器尺寸的局限，提高了光谱仪的精度。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113834568 A
(43)申请公布日 2021.12.24
(21)申请号 202111114423.2
(22)申请日 2021.09.23
(71)申请人 深圳迈塔兰斯科技有限公司
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