基于集成学习的MEMS传感器缺陷的检测方法、装置及设备.pdfVIP

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  • 2023-07-07 发布于四川
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基于集成学习的MEMS传感器缺陷的检测方法、装置及设备.pdf

本发明公开了一种基于集成学习的MEMS传感器缺陷的检测方法、装置及设备,该方法包括:接收预置的MEMS传感器缺陷的检测请求;获取所述MEMS传感器的缺陷图像;对所述缺陷图像进行图像分解,得到所述缺陷图像的分解图;将所述分解图输入至预置的集成分类器中,得到所述MEMS传感器的缺陷类别。本发明基于计算机视觉缺陷检测技术领域,在对MEMS传感器缺陷进行检测的过程中,通过对MEMS传感器的缺陷图像进行分解并输入至集成分类器中进行分类识别,以完成对MEMS传感器缺陷的检测,从而有效提升缺陷分类的准确率。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113850803 A (43)申请公布日 2021.12.28 (21)申请号 202111428291.0 (22)申请日 2021.11.29 (71)申请人 武汉飞恩微电子有限公司

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