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- 2023-07-07 发布于四川
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本发明涉及一种射频芯片测试装置和方法。该射频芯片测试装置包括:测试机和多台分选机;所述分选机与所述测试机连接;所述测试机中植入有用于控制分选机的工作模式和测试机资源分配的软件程序;分选机的工作模式包括:同步模式、轮盘模式和异步模式。本发明通过采用一台测试机就可以完成多台分选机工作过程的测试,能够有效解决现有技术中一台测试机只能控制一台分选机的问题,进而在提高测试效率的同时,降低芯片测试成本。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113828548 B
(45)授权公告日 2022.02.25
(21)申请号 202111416437.X G01R 31/28 (2006.01)
(22)申请日
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