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- 2023-07-07 发布于四川
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本发明提出了一种基于阻抗的走线评估优化方法，应用于印刷电路板中的球栅数组封装区域中，包括：通过多个走线结构的阻抗仿真得到多个输入参数与阻抗的对应关系；根据多个输入参数与阻抗的对应关系以及当前的输入参数，得到当前输入参数对应的阻抗，判断当前输入参数对应的阻抗是否满足预设范围，如果满足，则评估优化完成，如果不满足，则评估不通过，本发明还提出了一种基于阻抗的走线评估优化装置、设备及介质，通过建立多个输入参数与阻抗之间的对应关系，有效解决由于现有技术造成走线评估优化效率低的问题，有效地提高了走线评估的优
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113869000 A
(43)申请公布日 2021.12.31
(21)申请号 202110958958.1
(22)申请日 2021.08.20
(71)申请人 苏州浪潮智能科技有限公司
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