芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质.pdfVIP

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  • 2023-07-07 发布于四川
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芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质.pdf

本发明实施例公开了一种芯片的测试向量生成方法、装置、设备及存储介质。其中,方法包括:实时获取测试用例运行于待测芯片的过程中生成的关联操作信息;根据关联操作信息生成待测芯片的目标测试向量。本发明实施例可以优化芯片的测试向量生成的灵活性,提升测试向量的生成效率和测试覆盖范围。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113849419 B (45)授权公告日 2022.04.05 (21)申请号 202111455056.2 CN 110082666 A,2019.08.02 (22)

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