半导体器件及半导体器件的形成方法.pdfVIP

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  • 2023-07-07 发布于四川
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半导体器件及半导体器件的形成方法.pdf

一种半导体器件及半导体器件的形成方法,能够解决金属钨填充至所述接触窗或接触口内时出现的孔洞问题。所述半导体器件的形成方法,包括以下步骤:S11提供衬底;S12在所述衬底上表面形成阻挡层,且所述阻挡层的晶向中,晶向的占比至少为一预设值;S13在所述阻挡层上表面形成金属材料层,所述金属材料层的晶向包括晶向。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113871344 A (43)申请公布日 2021.12.31 (21)申请号 202010610934.2 (22)申请日 2020.06.30 (71)申请人 长鑫

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