半导体结构的形成方法.pdfVIP

  • 2
  • 0
  • 约1.77万字
  • 约 17页
  • 2023-07-07 发布于四川
  • 举报
一种半导体结构的形成方法,包括:提供基底,基底上具有多个分立的栅极结构,栅极结构的顶部和侧壁具有保护结构,基底上具有覆盖保护结构侧壁的第一介质层;在栅极结构两侧的第一介质层中形成源漏接触孔插塞,源漏接触孔插塞的顶面低于栅极结构顶部的保护结构的顶面;形成覆盖第一介质层、保护结构和源漏接触孔插塞的第二介质层;在第二介质层中形成位于源漏接触孔插塞上的底部接触孔;在第二介质层中形成位于栅极结构上且暴露出保护结构的栅接触孔;采用一个或者多个子循环工艺去除栅接触孔底部的保护结构,子循环工艺包括:对栅接触孔底

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113871345 A (43)申请公布日 2021.12.31 (21)申请号 20201

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档