一种基于快速嵌入式谱分析的高光谱图像稀疏特征选择方法.pdfVIP

一种基于快速嵌入式谱分析的高光谱图像稀疏特征选择方法.pdf

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本发明涉及一种基于快速嵌入式谱分析的高光谱图像稀疏特征选择方法,首先采用二分K‑均值方法快速选择锚点,基于锚点构建自适应近邻图加快构图速度减少时间复杂度。其次,采用谱分析对数据结构进行快速分析,并引入F范数正则项以保持数据的流形结构,尽可能保持子空间的类信息。最后引入l2,0范数约束,约束投影矩阵的行稀疏性,加强子空间的稀疏约束有助于获得类信息最丰富的特征子集。因此,本发明能够更好地实现高光谱图像波段选择,从而降低高光谱数据存储难度、提高数据处理速度、提取更加有效的波段。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113869454 A (43)申请公布日 2021.12.31 (21)申请号 202111189432.8 (22)申请日 2021.10.12 (71)申请人 西北工业大学 地址

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