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高质量粒子的表征.pdfVIP

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  • 2023-07-15 发布于四川
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高质量粒子的表征.pdf

    一种分析高质量(1MDa)粒子的方法，包括：电离粒子以产生离子；通过使该离子穿过离子分离装置来根据质荷比分离该离子，在该离子分离装置中使用一个或多个时变电场来推动离子通过气体，使得离子根据质荷比分离；测量该离子通过该离子分离装置的渡越时间；以及由此确定该离子的漂移时间或质荷比分布。该方法还包括在该漂移时间或质荷比分布中识别一个或多个电荷包络，并且使用该一个或多个电荷包络来表征该粒子。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116438452 A (43)申请公布日 2023.07.14 (21)申请号 202180071172.6 凯文 ·贾尔斯　 (22)申请日 2021.12.23

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