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本申请提供了一种用于故障的人机交互方法、系统、设备及介质，属于芯片测试技术领域。第一终端设备上的方法包括：显示第一测试界面，其中，第一测试界面实时显示芯片测试中多个不同测试设备的测试良率信息；在第一测试界面对目标测试设备进行报警显示，其中，目标测试设备为对应的测试良率信息低于预设的良率警戒值的测试设备；响应于测试停止操作，显示测试停止结果，并在第二终端设备的第二测试界面上对目标测试设备进行报警显示、在目标测试设备上的第三测试界面进行报警显示。本申请能够提高故障的可视化程度，通过人机交互提高芯片测
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116430200 A
(43)申请公布日 2023.07.14
(21)申请号 202310266853.9
(22)申请日 2023.03.10
(71)申请人 深圳市晶存科技有限公司
地址 5
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