环形映射缺陷的改善方法.pdfVIP

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  • 2023-07-19 发布于四川
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本发明提供一种环形映射缺陷的改善方法,提供刻蚀机台,刻蚀机台中的刻蚀腔中设有阳极板、阴极板,阳极板远离阴极板的一侧设置有射频线圈,射频线圈与第一射频发生器连接,阴极板与第二射频发生器连接,第一、二射频发生器分别用于调节等离子的密度和方向;在刻蚀机台的第一复机菜单中增加第二复机菜单,第一复机菜单为根据所需半导体器件预设的菜单,第二复机菜单包括:在刻蚀腔中通入第一刻蚀气体,调节刻蚀腔的压力、第一、二射频发生器的功率,利用第一刻蚀气体电离使得阳极板的表面致密化;执行第一、二复机菜单中的步骤。本发明使得

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116453949 A (43)申请公布日 2023.07.18 (21)申请号 202310450483.4 (22)申请日 2023.04.25 (71)申请人 华虹半导体(无锡)有限公司 地址

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