增加多晶硅栅横向切割工艺窗口的方法.pdfVIP

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  • 2023-07-19 发布于四川
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增加多晶硅栅横向切割工艺窗口的方法.pdf

本发明提供一种增加多晶硅栅横向切割工艺窗口的方法,提供衬底,在衬底上形成有栅氧化层以及位于栅氧化层上的伪栅多晶硅层,伪栅多晶硅层的侧壁上依次形成有第一、二侧墙,第一侧墙相对栅氧化层的刻蚀选择比符合目标值;在伪栅多晶层及其两侧的第一、二侧墙上形成沟槽;在沟槽中形成隔离层,之后研磨伪栅多晶硅上的隔离层至伪栅多晶硅层上方;去除伪栅多晶硅层,使得其下方的栅氧化层裸露,之后利用刻蚀去除裸露的栅极氧化层,使得对第一侧墙或第一、二侧墙的刻蚀量减少;在剩余的沟槽中形成金属栅。本发明的第一侧墙刻蚀速率相对较低,刻

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116453939 A (43)申请公布日 2023.07.18 (21)申请号 202310450532.4 (22)申请日 2023.04.24 (71)申请人 上海华力集成电路制造有限公司 地址

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