YS_T 1617.2-2023《氧化铟化学分析方法 第2部分：砷含量的测定 原子荧光光谱法》.pdfVIP

ICS 77.120.99 CCS H 14 YS 中华人民共和国有色金属行业标准 YS/T XXX.2—20XX 氧化铟化学分析方法 第2部分：砷含量的测定 原子荧光光谱法 Methods for chemical analysis of indiumoxide— Part 2：Determination of arsenic content— Atomic fluorescence spectrometry （报批稿） XXXX-XX-XX发布 XXXX-XX-XX实施 中华人民共和国工业和信息化部 发 布 1 YS/T XXXX.2-XXXX 前  言 本文件按照GB/T 1.1-2020 《标准化工作导则第 1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 本文件是YS/T XXX 《氧化铟化学分析方法》的第2部分。YS/T XXX 已经发布了以下部分： ——第1部分：镉、钴、铜、铁、锰、镍、锑、铅、铊含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光 谱法； ——第2部分：砷含量的测定 原子荧光光谱法 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任 本文件由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC 243）提出并归口。 本文件起草单位：昆明冶金研究院有限公司、云南锡业集团 （控股）有限公司、国标 （北京）检验 认证有限公司、云南云铜锌业股份有限公司、通标标准技术服务 （天津）有限公司、北矿检测技术股份 有限公司、国合通用 （青岛）测试评价有限公司、中国检验认证集团广东有限公司黄埔分公司、广西壮 族自治区分析测试研究中心。 本文件主要起草人：胥福顺、刘英波、杨毅、李超、刘恒宇、胡芳菲、冯祺、杨赟金、赵德平、许 金泉、王长华、刘鹏宇、杨洪艳、程堆强、罗海霞、闫豫昕、刘楠、侯志业、陈殿耿、顾续盛、李科、 夏兵伟、韦刚、陆云、黄殿贵。 I YS/T XXXX.2-XXXX 引  言 氧化铟是一种新的n型透明半导体功能材料，广泛应用于新型液晶显示器的制造。随着信息时代的 发展，特别是随着IT产业的迅猛发展，笔记本电脑、电视和手机等各种新型液晶显示器以及接触式屏 幕、建筑用材料对ITO薄膜或ITO玻璃的需求日益增加（ITO靶材生产占全球铟用量的70%以上），对 氧化铟的产量与品质也相应提高。YS/T XXX 旨在通过实验研究建立一套满足产品需求的、完整的、切 实可行的氧化铟化学分析方法标准，拟由以下两部分组成。 ——第 1部分：镉、钴、铜、铁、锰、镍、锑、铅、铊含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光 谱法； ——第2部分：砷含量的测定 原子荧光光谱法 本文件提供了一套科学、准确、快速、适用的测定氧化铟中砷含量的分析检测方法，满足市场上各 种氧化铟产品的质检要求，为氧化铟新型功能材料的发展提供了技术支撑。