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一种处理装置，对检测器在第一检测位置及第二检测位置检测到的检测强度针对每个检测位置进行处理，所述检测器检测从多个发出源发出的检测对象，所述处理装置具备：二维化部，将对于任意一对发出源的检测强度转换为将对于一个发出源的检测强度作为X轴的值且将对于另一个发出源的检测强度作为Y轴的值的坐标点的二维分布；划定部，在所述坐标点的二维分布中，划定包括与所述第一检测位置相关的坐标点及与所述第二检测位置相关的坐标点混合存在的混合存在区域的规定区域；及置换部，将划定的被划定区域中的坐标点的二维分布置换为与另一对发
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 111108405 A
(43)申请公布日
2020.05.05
(21)申请号 20188
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