一种基于光学相干干涉的测量系统.pdfVIP

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2023-07-26 发布于四川
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一种基于光学相干干涉的测量系统.pdf

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本发明公开了一种基于光学相干干涉的测量系统，包括半导体激光器、与所述半导体激光器连接的干涉系统、与所述干涉系统连接的待测光纤、与所述待测光纤连接的偏振分集光外差相干接收系统、与所述偏振分集光外差相干接收系统连接的光纤耦合器、与所述光纤耦合器连接的光电探测器、与所述光电探测器连接的信号处理单元以及与所述信号处理单元连接的辅助装置，基于光学相干干涉的测量系统采用偏振分集光外差相干接收系统，主要解决了两个问题，其一测量中的多次干涉问题，其二相干检测中的偏振衰落问题，从而提高了的检测灵敏度。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 106017513 A (43)申请公布日 2016.10.12 (21)申请号 20161